Svepelektronmikroskopi (SEM)

Avbildar fina yt- och brottdetaljer. Bilder stödjer gränsskiktsanalys men mäter inte ensamma bindningsstyrkan. Benämningar och förkortningar: elektronmikroskopi. Relaterade begrepp: Densitet; Återvinningsbarhet. Källor: https://research.fs.usda.gov/download/treesearch/42497.pdf, https://research.fs.usda.gov/treesearch/68010